試驗(yàn)?zāi)康?該試驗(yàn)方法用于評(píng)估電子、電器及其部件、材料和其他產(chǎn)品在恒定濕熱環(huán)境下的耐久性。它可以模擬電子、電器和其他產(chǎn)品在包括熱、潮濕和腐蝕...
標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.2-2008是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的試驗(yàn)方法,包...
標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.2-2008和GB/T 2423.3-2016都是關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn),主要用于電工電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試。它們的差異主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 測(cè)試條件不同 GB...
1. 初始檢測(cè) 按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查,對(duì)其電氣和機(jī)械性能進(jìn)行檢測(cè)。 2.條件試驗(yàn) 條件試驗(yàn)應(yīng)按如下程序進(jìn)行: a)除非有特殊規(guī)定,將...
常見國(guó)標(biāo)GB/T 2423.3-2016前言介紹 GB/T 2423.32006為GB/T 2423(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第3部分。 本部分等同采用IEC 60068278:2001(環(huán)境試驗(yàn) 第278部分:試驗(yàn)...
GB/T 2423.1-2008和GB/T 2423.2-2008是國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)電子和電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。 1.范圍不同:GB/T 2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的基本要求,如試...
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) 1 范圍 GB/T 2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、...
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫 1.范圍 GB/T 2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn) Bd與早期版本...
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 1 范圍 GB/T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本...
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